超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

H = v t / 2

式中: H-厚度; v-聲速; t-測(cè)量時(shí)間;

測(cè)量方法（模式）：

標(biāo)引序號(hào)說(shuō)明:

A-發(fā)射/接收探頭;A3-雙晶探頭

C-聲波傳輸時(shí)間;D-發(fā)射脈沖信號(hào)

F-界面回波;E1 E2-底面回波

G-延遲聲程;B-被測(cè)樣件

 P-E(單次回波法)

 測(cè)量初始脈沖和第一次底面回波之間的時(shí)間，同時(shí)對(duì)零點(diǎn)進(jìn)行校正

  I-E(單次回波延時(shí)法)

  測(cè)量延遲塊界面波與第一次底面回波之間的時(shí)間

 E-E(兩次回波法)

  測(cè)量連續(xù)兩次底面回波之間的時(shí)間